Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
VIII All-Russia Science&Technology Conference Problems of Advanced Micro- and Nanoelectronic Systems Development (MES). Selected articles. Issue III
сборник
Год издания:
2019
Том:
3
Место издания:
ИППМ РАН Москва
Добавил в систему:
Гуров Сергей Исаевич
Статьи, опубликованные в сборнике
2019
Automated Synthesis of Fault-Tolerant CED Circuits Based on R-code
Telpukhov D.V.
,
Zhukova T.D.
,
Dementva A.I.
,
Gurov S.I.
в сборнике
VIII All-Russia Science&Technology Conference Problems of Advanced Micro- and Nanoelectronic Systems Development (MES). Selected articles. Issue III
, место издания
ИППМ РАН Москва
, том 3, с. 54-59
DOI