|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
INSTRUMENTATION, METROLOGY, AND STANDARDS FOR NANOMANUFACTURING, OPTICS, AND SEMICONDUCTORSсборник
- Год издания: 2012
- Серия: VI. PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
- Том: 8466
- Добавил в систему: Ковальчук Михаил Валентинович
Статьи, опубликованные в сборнике
-
- 2012 New reference material for transmission electron microscope calibration
- Filippov M.N., Gavrilenko V.P., Kovalchuk M.V., Mityukhlyaev V.B., Rakov A.V., Todua P.A., Vasiliev A.L.
- в сборнике INSTRUMENTATION, METROLOGY, AND STANDARDS FOR NANOMANUFACTURING, OPTICS, AND SEMICONDUCTORS, серия VI. PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, том 8466, с. 84660-84660