|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
4th International Symposium on Reliability of Optoelectronics for Systemsсборник
- Год издания: 2014
- Серия: ISROS 2014
- Место издания: Toulouse, France
- Сборник тезисов
- Добавил в систему: Лагов Петр Борисович
Статьи, опубликованные в сборнике
-
- 2014 INFLUENCE OF GAMMA-RAY IRRADIATION ON THE DEGRADATION OF SUPERLUMINESCENT DIODES BASED ON AlGaAs/GaAs HETEROEPITAXIAL STRUCTURES DURING THE BURN-IN TEST
- Lagov P.B., Tapero K.I., Perevozchikov M.V., Drenin A.S.
- в сборнике 4th International Symposium on Reliability of Optoelectronics for Systems, серия ISROS 2014, место издания Toulouse, France, тезисы, с. 1-6