Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
VI. PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
серия сборников
Добавил в систему:
Ковальчук Михаил Валентинович
Сборники, входящие в состав серии
None
INSTRUMENTATION, METROLOGY, AND STANDARDS FOR NANOMANUFACTURING, OPTICS, AND SEMICONDUCTORS
серия
VI. PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
, том 8466
2012
INSTRUMENTATION, METROLOGY, AND STANDARDS FOR NANOMANUFACTURING, OPTICS, AND SEMICONDUCTORS
серия
VI. PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
, том 8466