ИСТИНА

• Охват: Международная
• Даты проведения: 26-31 июля 2015
• Место проведения: Турин, Italy
• Число участников: 200
• Веб-сайт: http://www.chitel2015.org/
• Добавил в систему: Ларин Александр Владимирович

Доклады:

• 2015 Structural interface defects in the course of modeling of Si(110) passivation by atomic layer deposition of Al2O3 (Стендовый)
• Авторы: Rybakov A.A., Zhidomirov G.M., Vercauteren D.P., Larin A.V.