ИСТИНА

• Охват: Всероссийская с международным участием
• Даты проведения: 22 июня - 2 июля 2016
• Место проведения: В.Новгород, Russia
• Число иностранных участников: 10
• Число участников из МГУ: 4
• Число докладчиков: 28
• Описание конференции:

  Основные научные направления семинара и школы-семинара: - совместное использование высокоразрешаю-щих методов рентгеновской дифрактометрии, рефлектометрии, топографии и электронной микроскопии; - моделирование кривых качания, расчёт пара-метров реальной структуры кристаллов, кристаллических слоев и композиций; - повышение разрешения и контраста, цифровая обработка и моделирование дифракцион- нык изображений; - фазовый и рефракционный контраст; - рентгеновская микротомография дефектов в кристаллах и медико-биологических объектов; - рентгеновская голография и оптика; - современные компьютерные технологии в диагностике материалов и обработке экспериментальных данных; - оригинальные научные работы, имеющие прямое отношение к исследованию и диагностике различных материалов, включая наноструктуры и биологические объекты.

• Добавил в систему: Суворов Эрнест Витальевич

Доклады:

• 2016 Метод траекторий в Лауэ дифракции: формирование изображения краевой дислокации перпендикулярной поверхности кристалла (Устный)
• Авторы: Смирнова И.А., Суворов Э.В.

• 2016 Физика дифракционного изображения дефектов в рентгеновской топографии (Приглашенный)
• Автор: Суворов Э.В.