ИСТИНА

• Охват: Международная
• Даты проведения: 21-24 апреля 2015
• Место проведения: Томск, Russia
• Организатор:
  Национальный исследовательский Томский политехнический университет
• Все конференции этой группы
• Добавил в систему: Новицкий Андрей Павлович

Доклады:

• 2015 Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques (Устный)
• Авторы: Pustovalova A.A., Ivanova N.M.

• 2015 Влияние легирования NaF на термоэлектрические свойства BiCuSeO (Устный)
• Авторы: Новицкий А.П., Шванская Л.В., Васильев А.Н.