Abstr. 4th European Conference on High Resolution X-ray Diffraction and Topography (Durham, U.K., 9-11 September 1998), P. P3.45. - Конференция | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Abstr. 4th European Conference on High Resolution X-ray Diffraction and Topography (Durham, U.K., 9-11 September 1998), P. P3.45.Конференция

Даты проведения: 1998
Место проведения: Durham, U.K.
Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич

Доклады:

1998 Interfacial Roughness Correlation Function from Diffusion-like Growth Equation.
Авторы: Бушуев В.А., Козак В.В.

1998 Some Aspects of an Inverse Problem Decision in a Phase-Contrast Method.
Авторы: Сергеев А.А., Бушуев В.А.

1998 The New Features of X-ray Triple Crystal Diffractometry for Characterization of Microscale Surface and Interface Roughness of Single Crystal.
Автор: Бушуев В.А., Ломов А.А.

1998 Wave Theory of X-ray Phase-Contrast Images. Sensitivity and Spatial Resolution.
Авторы: Бушуев В.А., Беляевская Е.А., Ингал В.Н.

1998 X-ray High Resolution Reflectometry of Boron Layers, Received by Laser Sputtering on Silicon Substrates.
Авторы: Петраков А.П., Бушуев В.А.