![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Программа Конференции включила следующие вопросы: -Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Hовые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений. Крио-ЭМ и применение электронной микроскопии, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине. -Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов. -Растровая электронная и ионная микроскопия. In situ исследования в РЭМ. -Сканирующая зондовая микроскопия. -Исследование сверхбыстрых процессов, фемтосекундная микроскопия, динамическая электронная кристаллография. -Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях. -Электронная микроскопия в химии, геологии и материаловедении. -Другие применения электронной микроскопии и комплементарных методов