Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Intel International Science and Engineering Fair 2000
конференция
Охват:
Международная
Даты проведения:
2000
Место проведения:
Детройт
Добавил в систему:
Тищенко Сергей Александрович
Доклады:
2000
Максимальный размер графа диаметра 2 с фиксированной эйлеровой характеристикой
Автор:
Тищенко С.А.