|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
SPIE Optics + Photonics, Conference 8838, Optical Manufacturing and Testing X, 25 - 29 August 2013Конференция
- Охват: Международная
- Даты проведения: 2013
- Место проведения: San Diego, California United States, United States
- Добавил в систему: Лопушенко Владимир Васильевич
Доклады:
- 2013 Calculating BTDF from window surface roughness (Устный)
- Авторы: Stover J.C., Church E., Tayabaly K., Лопушенко В.В.