Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Scannig probe microscopy - 2002
Конференция
Охват:
Международная
Даты проведения:
3-6 марта 2002
Место проведения:
Нижний Новгород, Russia
Организатор:
Институт физики микроструктур РАН
Все конференции этой группы
Добавил в систему:
Жихарев Александр Владимирович
Доклады:
2002
Influence of Si+ and Ar+ implantation on surface layer structure and mechanical characteristics of titanium alloy
(Стендовый)
Авторы:
Zhikharev A.V.
,
Bystrov S.G.
,
Bykov P.V.
,
Drozdov A.Yu
,
Bayankin V.Ya
2002
Probe modifications and development of model samples for use in chemical force microscopy
(Стендовый)
Авторы:
Bystrov S.G.
,
Shakov A.A.
,
Zhikharev A.V.