Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Scannig probe microscopy - 2003
Конференция
Охват:
Международная
Даты проведения:
2-5 марта 2003
Место проведения:
Нижний Новгород, Russia
Организатор:
Институт физики микроструктур РАН
Все конференции этой группы
Добавил в систему:
Жихарев Александр Владимирович
Доклады:
2003
Auxiliaries for scanning probe microscopes
(Стендовый)
Авторы:
Bystrov S.G.
,
Zhikharev A.V.
2003
Influence of sample surrounding medium on chemical contrast of AFM images. Methods for increasing reproducibility of chemical force microscopy measurements
(Стендовый)
Авторы:
Bystrov S.G.
,
Zhikharev A.V.
,
Shakov A.A.