Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Вторая международная научная школа-семинар «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)», (г. Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 года)
Семинар (workshop)
Охват:
Международная
Даты проведения:
2008
Место проведения:
г. Великий Новгород
Добавил в систему:
Андреева Марина Алексеевна
Доклады:
2008
Рентгеновская резонансная рефлектометрия с использованием поляризованного СИ как метод исследования магнитных мультислоев
Авторы:
Андреева М.А.
,
Рогалев А.
,
Смехова А.Г.
2008
Рентгеновская флуоресценция в условиях резонансного возбуждения в скользящей геометрии
(Устный)
Авторы:
Андреева М.А.
,
Смехова А.Г.
,
Одинцова Е.E.
2008
Стоячие волны в селективных по глубине исследованиях сверхтонких взаимодействий
(Устный)
Авторы:
Андреева М.А.
,
Gupta A.
,
Грибова А.Д.