|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
INTERNATIONAL CONFERENCE "In Statistical Modeles and Methods for Biometrical and Technical Systems"Конференция
- Охват: Международная
- Даты проведения: 2008
- Место проведения: Boston
- Добавил в систему: Чепурин Евгений Васильевич