ИСТИНА

• Охват: Международная
• Даты проведения: 25-29 июня 2017
• Место проведения: Internationales Congress Center, Munich, Germany
• Организатор:
  SPIE
• Число участников: 1000
• Веб-сайт: https://spie.org/conferences-and-exhibitions/optical-metrology
• Добавил в систему: Смирнов Александр Михайлович

Доклады:

• 2017 Modeling of nondestructive method for doped semiconductor layer diagnostics and experimental realization in a colloidal quantum dots (Стендовый)
• Авторы: Smirnov A.M., Dneprovskii V.S., Boriskin A.G.