Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
XVII Российская конференция по электронной микроскопии
Конференция
Даты проведения:
1998
Все конференции этой группы
Добавил в систему:
Зыкова Екатерина Юрьевна
Доклады:
1998
Исследование тонких пленок AlN методами электронографии и атомно-силовой микроскопии
Авторы:
Еловиков C.C.
,
Шахурин Е.С.
,
Зыкова Е.Ю.
,
Гвоздовер Р.С.