Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
IENA-2017
Выставка
Охват:
Международная
Даты проведения:
13-17 ноября 2017
Место проведения:
Нюрнберг, Germany
Организатор:
IENA
Число участников:
450000
Число иностранных участников:
180
Число участников из МГУ:
1
Число докладчиков:
500
Добавил в систему:
Базыленко Валерий Андреевич
Доклады:
2017
A new method for counterfeit protection using circular photovoltaic effect in a semiconductor nanostructure
(Стендовый)
Автор:
Базыленко В.А.