Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Исследование туннельного тока в присутствии примесных атомов на поверхности полупроводников методом сканирующей туннельной микроскопии/спектроскопии
доклад на конференции
Авторы:
Манцевич В.Н.
,
Панов В.И.
,
Орешкин А.И.
,
Маслова Н.С.
Региональная Конференция :
Ломоносовские чтения - 2010. Секция физики
Даты проведения конференции:
19-23 апреля 2010
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
Манцевич В.Н.
не указан
Манцевич В.Н.
Панов В.И.
Орешкин А.И.
Маслова Н.С.
Место проведения:
Москва, Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова, Russia
Добавил в систему:
Манцевич Владимир Николаевич