|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
СПЕКТРОСКОПИЯ ДИЭЛЕКТРИКОВ С ПОТЕРЯМИ В ОБЛАСТИ НИЗКИХ И МИКРОВОЛНОВЫХ ЧАСТОТдоклад на конференции
- Авторы: Пирогов Ю.А., Малышкин А.К.
- Всероссийская Конференция (Семинар (workshop)) : XIII Всероссийская школа-семинар «Физика и применение микроволн» (Волны-2011)
- Даты проведения конференции: 23-28 мая 2011
- Дата доклада: 26 мая 2011
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Малышкин А.К.
- Место проведения: Звенигород, МО, Россия, Russia
-
Аннотация доклада:
В работе представлен пример совместного использования различных измерительных комплексов с целью расширения частотного диапазона исследования диэлектрических материалов и стыковки полученных результатов. Для измерения на низких частотах (f = 10-1¸106 Гц) была использована контактная методика измерения импеданса. Из спектров импеданса автоматически рассчитываются спектры комплексной диэлектрической проницаемости и комплексной проводимости. Измерительное оборудование в этом интервале частот представляет собой широкополосный диэлектрический спектрометр Concept-40 (NOVOCONTROL). В диапазоне частот f = 9,8×1010¸1,4×1011 Гц применялась бесконтактная методика измерения коэффициента пропускания при использовании миллиметрового спектрометра СМД-Т
- Добавил в систему: Пирогов Юрий Андреевич