Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Denermination of the second critical energy of primary electrons in relation to dielectric thickness and angle of incidence.
доклад на конференции
Авторы:
Rau E.I.
,
Tatarintsev A.A.
,
Evstaf'eva E.N.
Международная Конференция (Конгресс) :
18th International Microscopy Congress (IMC 2014)
Даты проведения конференции:
7-12 сентября 2014
Дата доклада:
10 сентября 2014
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
Rau E.I.
не указан
Rau E.I.
Tatarintsev A.A.
Evstaf'eva E.N.
Место проведения:
Prague, Czech Republic
Аннотация доклада:
Proc. IT-4-P-1829
Добавил в систему:
Рау Эдуард Иванович