Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Drop-microprobe identification of microinclusions in surface layers of semiconductor supports for SBIS
доклад на конференции
Авторы:
Kletskina E.V.
,
Guimelfarb F.A.
,
Borzenko A.G.
,
Alimova A.N.
Всероссийская Конференция :
Microelectronics’94
Даты проведения конференции:
1-4 декабря 1994
Дата доклада:
1 декабря 1994
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
Kletskina E.V.
не указан
Kletskina E.V.
Guimelfarb F.A.
Borzenko A.G.
Alimova A.N.
Место проведения:
Звенигород, Russia
Добавил в систему:
Проскурнина Елена Васильевна