ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИПМех РАН |
||
Показано, что в одной и той же пленке a-Si:H, в зависимости от ее начального состояния, температурные зависимости скоростей образования оборванных связей кремния (ОС) и порядок реакции образования ОС различны. После длительного предварительного освещения пленки при повышенной температуре процесс образования ОС - бимолекулярный, скорость его не зависит практически от температуры. Полученные данные указывают на существование двух механизмов дефектообразования, которые обсуждаются в работе.