ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИПМех РАН |
||
В докладе рассматриваются физические основы метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС),обсуждаются возможности метода для количественного анализа и определения химического состояния элементов на поверхности катализаторов. На практических примерах демонстрируются основные проблемы, возникающие при получении, обработке и интерпретации РФЭС спектров.