![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Проведён сравнительный анализ свойств детерминированных апериодических дифракционных решёток и многослойных структур. Установлена количественная связь между самоподобием в структуре оптических элементов и скейлингом в их спектральных характеристиках. Рассмотрено применение апериодических устройств.