|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Исследование профилей распределения имплантированных кластеров алюминия Aln методом ToF-SIMSдоклад на конференции
- Автор: Данилов Андрей Викторович
- Всероссийская Конференция (Семинар (workshop)) : X Всероссийская школа-семинар студентов, аспирантов и молодых учёных «Диагностика наноматериалов и наноструктур»
- Даты проведения конференции: 1-6 октября 2018
- Дата доклада: 4 октября 2018
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Рязань, Russia
- Добавил в систему: Данилов Андрей Викторович