ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИПМех РАН |
||
В настоящей работе рассмотрены экспериментальные секционные и проекционные изображения краевой дислокации перпендикулярной поверхности кристалла. Экспериментальные изображения анализируются с использованием численного моделирования дифракционного эксперимента. Представлены результаты численного моделирования секционных изображений краевой дислокации и дальнейшее последовательное интегрирование распределения интенсивности на выходной поверхности кристалла.