ИСТИНА

Исследование связано с вопросом: как игла сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) влияет на измеряемые состояния. СТМ измеряет туннельный ток, возникающий между иглой микроскопа и поверхностью кристалла, и этот ток зависит от плотности состояний электронов. В то же время игла микроскопа создает в кристалле радиально-симметричный потенциал U(r) и тем самым искажает измеряемые состояния. Чтобы оценить искажения, нужно построить квазиклассические асимптотики для двумерного уравнения Дирака или Шредингера с потенциалом U(r), после чего рассчитать локальную плотность состояний для полученных асимптотик. Уравнения Шредингера и Дирака соответствуют двумерным кристаллам с разной кристаллической решеткой. Анализ показывает, что в случае уравнения Шредингера существенно искажаются только состояния с малыми энергиями, тогда как для уравнения Дирака заметные искажения происходят на всех энергиях. Результаты поддержаны грантом РФФИ 16-31-00442