|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
О применении алгоритма дискриминантного анализа "ЭЛДА" в задачах прогнозирования надёжности полупроводниковых приборовдоклад на конференции
- Автор: Степанов В.С.
- Всероссийская с международным участием Конференция : III-я Всесоюзная конференция "Моделирование отказов и имитация на ЭВМ статистических испытаний ИМС и их элементов"
- Даты проведения конференции: 7-9 февраля 1989
- Дата доклада: 8 февраля 1989
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Степанов В.С.
- Место проведения: г.Суздаль, Russia
- Добавил в систему: Степанов Владимир Сергеевич