|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Выявление дефектов интегральных схем методами морфологического анализа изображенийдоклад на конференции
- Авторы: Пытьев Ю.П., Спивак Г.В., Иванников В.П., Терентьев Е.Н., Задорожный С.С., Лукьянов А.Е.
- Всероссийская Конференция (Симпозиум) : Симпозиум Методы подготовки сложных объектов и анализа электронно-микроскопических изображений, 1976, Петрозаводск
- Даты проведения конференции: 4-7 октября 1976
- Дата доклада: 4 октября 1976
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Петрозаводск, Russia
- Добавил в систему: Терентьев Евгений Николаевич