|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Novel Perspectives for CLEM Techniques in Multiparametric Morphology Protocolsдоклад на конференции
- Автор: Gradov O.V.
- Международная Конференция : Russian International Conference on Cryo-Electron Microscopy 2019 (RICCEM-2019, Moscow, June 02-05)
- Даты проведения конференции: 2-5 июня 2019
- Дата доклада: 3 июня 2019
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Moscow, Russia
- Добавил в систему: Gradov Oleg V.