ИСТИНА

Определение электродинамических характеристик сверхпроводящих пленок, используемых в разработках проводников третьего поколения является важным аспектом исследований . К таким характеристикам относят температуру перехода в критическое состояние , величину критического поля и плотность критического тока. Существуют две основные группы методов для проведения таких измерений: электрические и магнитные. Последние удобнее с точки зрения проведения эксперимента, однако требуют дополнительных математических выкладок и построения модели распределения токов в образце. В данной работе проведена сравнительная характеристика данных методов, а также выполнена оценка расхождения величин оценок плотности критического тока, полученных при использовании различных моделей.