|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Компьютерный анализ топологии поверхности кремния, имплантированного ионами цинка и окисленного при повышенных температурахдоклад на конференции
- Авторы: Соколов В.Н., Ксенич C.В., Привезенцев В.В., Разгулина О.В.
- Всероссийская с международным участием Конференция : XXVI Российская конференция по электронной микроскопии и в рамках Конференции 4-я Школа молодых учёных «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов
- Даты проведения конференции: 30 мая - 3 июня 2016
- Дата доклада: 2 июня 2016
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: не указан
- Место проведения: г. Москва, Зеленоград, ул. Юности, дом 8 , Russia
- Добавил в систему: Соколов Вячеслав Николаевич