|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Multilayer structure characterization by PIXE methodsдоклад на конференции
- Автор: Петухов В.П.
- Международная Конференция : 8th International Conference on PIXE and its Analitical Applications
- Даты проведения конференции: 1998
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: Петухов В.П.
- Место проведения: Lund, Sweden , Sweden
- Добавил в систему: Петухов Владимир Петрович