ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИПМех РАН |
||
Образцы топологических изоляторов исследовались методом терагерцовой спектроскопии временного разрешения в диапазоне частот от 0.1 до 0.7 ТГц. Источником оптической накачки служил эрбиевый волоконный лазер с длительностью импульсов 100 фс и частотой повторения 70 МГц. Через линию временной задержки излучение накачки заводилось на излучающую фотопроводящую антенну. С помощью двух параболических зеркал терагерцовое излучение, испускаемое антенной, собиралось на исследуемый образец. На основании измеренных спектров пропускания была измерена дисперсия проводимости топологических изоляторов в терагерцовом диапазоне спектра. Работа выполнена при поддержке гранта РФФИ № 18-29-20101 мк