Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Characterization of ultrathin amorphous and crystalline films by means of specular reflection under grazing-incidence X-ray diffraction conditions
доклад на конференции
Авторы:
Мухамеджанов Э.Х.
,
Орешко А.П.
,
Бушуев В.А.
,
Имамов Р.М.
Конференция :
Thes. 6th Biennial Conference on High Resolution X-ray diffraction and Imaging XTOP-2002 (10-14 Sep. 2002, Grenoble-Aussois, France). P. 175.
Даты проведения конференции:
2002
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Мухамеджанов Э.Х.
Орешко А.П.
Бушуев В.А.
Имамов Р.М.
Место проведения:
Grenoble-Aussois, France, France
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич