|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Characterization of ultrathin amorphous and crystalline films by means of specular reflection under grazing-incidence X-ray diffraction conditionsдоклад на конференции
- Авторы: Мухамеджанов Э.Х., Орешко А.П., Бушуев В.А., Имамов Р.М.
- Конференция : Thes. 6th Biennial Conference on High Resolution X-ray diffraction and Imaging XTOP-2002 (10-14 Sep. 2002, Grenoble-Aussois, France). P. 175.
- Даты проведения конференции: 2002
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Grenoble-Aussois, France, France
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич