|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Характеризация ростовых неоднородностей плотности тонких пленокдоклад на конференции
- Авторы: Сутырин А.Г., Ломов А.А., Бушуев В.А.
- Конференция : Тез. IX Национальной конференции по росту кристаллов (НКРК-2000, Москва, Институт кристаллографии РАН, 16-20 октября 2000). C. 397.
- Даты проведения конференции: 2000
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Москва, Россия, ИКАН, Россия
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич