Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
High resolution X-ray reflectometry study of thin porous films
доклад на конференции
Авторы:
Lomov A.A.
,
Сутырин А.Г.
,
Бушуев В.А.
Конференция :
Abstr. 5th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Topography (XTOP-2000), Ustron-Jaszowiec, Poland, 13-15 September 2000, P. 65.
Даты проведения конференции:
2000
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Lomov A.A.
Сутырин А.Г.
Бушуев В.А.
Место проведения:
Ustron-Jaszowiec, Poland, Poland
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич