|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
High resolution X-ray reflectometry study of thin porous filmsдоклад на конференции
- Авторы: Lomov A.A., Сутырин А.Г., Бушуев В.А.
- Конференция : Abstr. 5th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Topography (XTOP-2000), Ustron-Jaszowiec, Poland, 13-15 September 2000, P. 65.
- Даты проведения конференции: 2000
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Ustron-Jaszowiec, Poland, Poland
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич