|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
The influence of X-ray diffuse scattering on the secondary processes yield.доклад на конференции
- Автор: Бушуев В.А.
- Конференция : Abstr. 2nd European Symp.X-ray Topogr and High Resolution Diffraction (Berlin, Germany, 1994), P. 143.
- Даты проведения конференции: 1994
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: Бушуев В.А.
- Место проведения: Berlin, Germany, Germany
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич