|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Интерференционный метод измерений кривизны поверхности тонких пластинок. /доклад на конференции
- Авторы: Рыжикова Ю.В., Рыжиков С.Б.
- Международная Конференция : XIV Международная учебно-методическая конференция "Современный физический практикум"
- Даты проведения конференции: 27-29 сентября 2016
- Дата доклада: 28 сентября 2016
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Рыжиков С.Б.
- Место проведения: МГТУ им. Н.Э. Баумана, Москва, Russia
-
Аннотация доклада:
Предложена методика расчета кривизны поверхности тонких пластинок на основе измерения радиусов колец «равного наклона», наблюдаемых на удаленном экране при освещении пластинки лазером. Указанный эксперимент может быть использован в качестве лекционной демонстрации, а также при проведении лабораторных работ.
- Доклад на конференции выполнен в рамках проекта (проектов):
- Добавил в систему: Рыжикова Юлия Владимировна