![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Нами была впервые использована корреляционная микроскопия ПЭМ и АСМ проведено исследование одних и тех же областей поверхности сетки для электронной микроскопии двумя методами. Сопоставление полученных изображений показало, что мы можем позиционироваться на макроскопическом образце с точностью до ~10 нм и сравнивать размеры индивидуальных частиц.