|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Comparison of the reliability of impurities composition determination in fine chemicals using electron impact and atmospheric pressure photoionisation mass-spectrometry.доклад на конференции
- Авторы: Ревельский А.И., Yashin Y.S., Zirko B.I., Ревельский И.А., Karavaeva V.G., Tikhonova I.N.
- Конференция : PITTCON
- Даты проведения конференции: 1998
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: New Orleans
- Добавил в систему: Ревельский Игорь Александрович