|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Атомно-силовая микроскопия для исследования толщин тонких пленок и покрытийдоклад на конференции
- Авторы: Чучкова М.В., Бельтюков А.Н.
- Всероссийская Конференция : Всероссийская школа молодых ученых "КоМУ-2020" (Ижевск, 14-16 октября 2020 г)
- Даты проведения конференции: 14-16 октября 2020
- Дата доклада: 16 октября 2020
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Ижевск, Russia
- Добавил в систему: Бельтюков Артемий Николаевич