ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИПМех РАН |
||
Показано, что в полях дифракции излучения на 1D, 2D и 3D апериодических структурах с различными типами симметрии самоподобия в широком диапазоне углов падения присутствуют устойчивые к сохранению своей формы фрактальные фрагменты. Полученные результаты могут стать основой для разработки метода фрактальной диагностики особенностей структуры апериодических систем.