ИСТИНА

Предложен новый высокочувствительный метод для исследования локальных деформаций поверхности, обусловленных дефектами кристаллов. Метод основан на анализе формы «интерференционных деформационных полос» в геометрии брэгговской дифракции рентгеновских лучей. Удается количественно измерять радиусы локальных изгибов кристаллографических плоскостей от десятков до нескольких сотен метров. «Интерференционные деформационные полосы» в геометрии брэгговской рентгеновской дифракции впервые были обнаружены и описаны в работе [1], а затем исследованы теоретически и экспериментально [2,3]. Эти полосы возникают на секционных топограммах в геометрии Брэгга только при изгибе кристалла. В идеальном кристалле обычные маятниковые полосы быстро затухают. В случае изогнутого кристалла возникает новый эффект, связанный с интерференцией старого волнового поля с новым, образованным внутри кристалла за счет межветвевого рассеяния.