ИСТИНА

Задача учета экспериментального диффузного рассеяния для экспериментальных данных, полученных на приборах с точечным детектором была решена в работе [1]. Применительно к современным условиям, оценка диффузного рассеяния при съемке с использованием 2D детекторов требует иного подхода. В данной работе предложен алгоритм и разработана компьютерная программа по экспериментальному выделению вклада диффузного рассеяния. Кристаллография, в первую очередь, касается средних положений атомов или молекул. В то же время локальные отклонения (дефектность) от средней структуры могут являться основным фактором для объяснения многофункциональных свойств кристаллов. Структурные дефекты различной степени могут быть индуцированы ионизирующими излучениями, что, в свою очередь, позволяет исследовать зависимости физических свойств кристаллов от степени их дефектности. Основным проявлением дефектов в рентгеноструктурных исследованиях является возникновение интенсивностей диффузного рассеяния на дифракционной картине как под брагговскими пиками, так и в пространстве между узлами основных дифракционных пиков. Современные рентгеновские дифрактометры с 2D детекторами позволяют собирать большие объемы информации о 3-х мерном дифракционном пространстве. Это дает возможность получать информацию не только о брэгговском рассеянии, но и о распределении диффузного рассеяния. Как следствие появляется возможность исследования диффузного рассеяния как отдельного источника информации о строении кристалла. Первоочередная задача данной работы состоит в получении дифракционной картины, свободной от брэгговских пиков. Если рассматривать брэгговские пики как выбросы на дифракционной картине, которые можно удалить из общих данных рассеяния с одновременной заменой их статистически достоверными значениями, то можно получить дифракционную картину диффузного рассеяния. Для реализации поставленной задачи можно применять уже существующие фильтры сглаживания изображений. Полученную таким образом картину диффузного рассеяния можно анализировать отдельно. Или исключив ее из общей дифракционной картины, получить массив структурных интенсивностей, свободных от диффузного рассеяния. В докладе представлены метод разделения и примеры применительно к результатам рентгеноструктурных экспериментов.