|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Analysis of topography of silicon wafers and wafer-based structures by geomorphometric modelingдоклад на конференции
- Авторы: Dedkova A.A., Florinsky I.V., Djuzhev N.A.
- Международная Конференция : Geomorphometry 2021
- Даты проведения конференции: 13-15 сентября 2021
- Дата доклада: 14 сентября 2021
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Dedkova A.A.
- Место проведения: Perugia, Italy
- Добавил в систему: Флоринский Игорь Васильевич