Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Применение термоиндикаторов для исследования надежности и прогнозирования отказов полупроводниковых приборов
доклад на конференции
Авторы:
Левченко В.А.
,
Шибаева Е.Ю.
,
Алтоиз Б.А.
Международная Конференция :
Международная конференция "Физические основы надежности и деградации полупроводниковых приборов"
Даты проведения конференции:
1985
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
Левченко В.А.
не указан
Левченко В.А.
Шибаева Е.Ю.
Алтоиз Б.А.
Место проведения:
Кишинев
Добавил в систему:
Левченко Владимир Анатольевич