|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
О нижней оценке функции шеннона длины единичного проверяющего теста при константных неисправностях на выходах элементовдоклад на конференции
- Авторы: Романов Д.С., Плоткина Ю.С.
- Всероссийская Конференция : Научная конференция «Тихоновские чтения»
- Даты проведения конференции: 2013
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Романов Д.С.
- Место проведения: Москва, МГУ им. М.В. Ломоносова, Russia
-
Аннотация доклада:
Установлено, что значение функции Шеннона D(n) длины единичного проверяющего теста относительно константных неисправностей на выходах элементов в имеющих один выход схемах из функциональных элементов произвольном полном базисе не меньше трех, начиная с некоторого значения n (зависящего от базиса).
- Добавил в систему: Романов Дмитрий Сергеевич