|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Topological effect of interface texture on the exchange bias in ferro-antiferromagnetic thin films grown on hybrid seed layersдоклад на конференции
- Авторы: Talantsev A., Elzwawy A., Bakhmetiev M., Kim C.
- Международная Конференция : 2022 JOINT MMM-INTERMAG
- Даты проведения конференции: 10-14 января 2022
- Дата доклада: 11 января 2022
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: не указан
- Место проведения: New Orleans, United States
- Добавил в систему: Бахметьев Максим Владимирович